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반도체의 성능 향상에 방해가 되는 요인을 찾아보다 short channel effect에 대해 알게 되었고 이 효과가 반도체 발전함에 따라 얼마나 영향력이 커지는지 대략적으로 수치화해보고자 함
Short channel effect(SCE)에 대해 개념적으로 이해할 수 있는 쉬운 자료들을 찾아보고 앞서 알아본 양자터널현상이 SCE중 하나인 GIDL임을 알게 되고, 그 외에 다른 SCE인 punch through 현상(전원을 껐는데도 전류가 누설되어 완전히 꺼지지 않는 현상)에 대해 탐구하기로 결정함
MOSFET(일종의 트랜지스터) 채널 길이에 따른 누설전류 그래프를 검색하여 찾고 값 두개를 대입해 지수함수와 로그로 그래프 식 추정
MOSFET 채널 길이가 각각 1nm, 1μm일 때의 도함수 값을 비교하여 과거와 현재의 SCE 영향력을 비교함
후속 연구로 이번에 추정해낸 SCE에 의한 누설전류와 채널 길이 관계식을 이용하여 SCE에 대한 해결책 중 하나인 LDD에 대한 문항을 제작함